安東帕Anton Paar納米粒度分析儀

廣州金程科學儀器公司供應的安東帕Anton Paar納米粒度分析儀Litesizer DLS 700，只需一鍵觸摸即可表征納米和微米粒子。借助這些動態光散射儀器，用戶可以在較寬的濃度范圍內測定分散體中的顆粒以及溶液中的肽或大分子，從而縮短樣品制備時間。

粒度分析儀采用光散射技術結合巧妙簡易的軟件，可實現粒度分布、顆粒濃度、zeta 電位、分子量以及透光率和折光率的測試。

顆粒表征分析顆粒表征分析從納米至微米范圍

通過多角度粒度測定 (MAPS) 實現不同大小群體的高分辨率

測定一個樣品中高達三個不同尺寸類別的濃度

儀器特點：

得益于出色的角度選擇 - 無論樣品如何

通過多角度粒度測定 (MAPS) 確保實現不同大小群體的高分辨率

從三個檢測角度（側向、后向或前向散射）中進行選擇，以實現最佳參數設置

手動選擇適合的動態光散射儀器角度或使用自動角度選擇

得益于多功能后向散射角，這對于濁度樣品較理想，其減少了多個散射事件，確保優秀的數據質量。

依靠cmPALS 技術進行 zeta 電位測量

通過 Litesizer DLS 700 可以通過電泳光散射法執行 zeta 電位測量。

在低樣品濃度（低至 0.1 mg/mL） 下采用我們的 cmPALS專業技術（歐洲認可 2 735 870）

使用 cmPALS 享受更短的測量時間和極低的樣品降解

使用我們 zeta 電位樣品池專業 Ω 形毛細管完成高度可重復的 zeta 電位測量

在顆粒濃度測量中模式保持靈活性

使用 Litesizer DLS 700 對一個樣品中高達三種不同大小的粒子群進行免校準顆粒濃度測量

使用這種基于單角度 DLS 或多角度粒度分析 (MAPS) 的模式可確保適用于較寬濃度范圍內的單分散和多分散樣品

實現樣品監測的持續的透光率測量

享受樣品的即時反饋 — 動態光散射儀器能夠連續測量透射率

充分利用自動優化測量參數（如測量角度、焦點位置和持續時間）

在一系列測量中獲取有關沉積或聚集開始的數據

使用同一儀器測定折射率

使用 Litesizer DLS 700 在 DLS 或 ELS 測量的精確波長和溫度下測量溶劑的折射率（歐洲認證 3 023 770）

確保在所有試驗條件下，獲得出色的粒徑和 zeta 電位值。

借助 Litesizer DLS 700測定 ±0.5% 以內的折射率

只需點擊幾下即可掌控您的測量

使用安東帕簡便易用的粒度軟件 Kalliope 管理數據

通過安東帕專業的單頁工作流程，一目了然地了解您的輸入參數、測量信號和結果

得益于預定義標準報告和結構化結果概覽，快速查看您的測量結果

通過分析功能、Excel 報告，和自定義報告模板來深入挖掘您的數據

符合 21 CFR Part 11 規定

技術參數：

安東帕Anton Paar納米粒度分析儀Litesizer DLS 700信息由廣州金程科學儀器有限公司為您提供。